询价
- 检出限：金属镀层分析最薄可达0.005μm
- 镀层测试：<5%
- 测试宽度：0.1mm
- 稳定性：多次测量重复性可达1%
- 同时检测元素：可同时分析24个元素，五层镀层
- X射线装置：微焦斑W靶光管
EDX600 PLUS是天瑞仪器股份有限公司集多年X荧光镀层厚度测量技术经验，专门研发的一款下照式结构的电镀测厚仪。测量方便快捷，无需液氮，无需样品前处理。对工业电镀、化镀、热镀等各种镀层的成分厚度以及电镀液金属离子浓度进行准确检测，帮助企业准确核算成本及质量管控。可广泛应用于光伏行业、五金卫浴、电子电器、航空航天、磁性材料、汽车行业、通讯行业等领域。
进口的高功率高压单元搭配微聚焦的X光管，极大的保证了信号输出的效率与稳定性。
相比普通版的EDX 600，EDX 600 PLUS采用了更为先进的高分辨率FAST SDD探测器，其分辨率高达140EV，能完美的将不同的元素准确解析，针对多镀层与复杂合金镀层的测量，有着不可比拟的优势。
在准直器的选择上，EDX 600 PLUS也有着很大的优势，相较于普通的EDX600，它可以搭配的准直器更小∶0.1*0.2mm，φ0.15mm；φ0.2mm；φ0.3mm等等。用超小的准直器得到的超小光斑，让更小样品的测量也变得游刃有余。
设计亮点
全新的下照式设计，一键式的按钮，极大减少摆放样品时间。
全新的光路系统，很大程度上减少了光斑的扩散，实现了对更小产品的测试。
配合高性能距离补正算法，实现了对不规则样品（如凹凸面，拱形，螺纹，曲面等）的异型测试面的准确测试。
软件界面
人性化的软件界面，让操作变得更加便捷。
曲线的中文备注，让您的操作更易上手。
仪器硬件功能的实时监控，让您的使用更加放心。
EDX600PLUS与EDX600的技术参数对比
结论∶经实测，EDX600 PLUS针对镀层厚度分析，尤其是微小样品的厚度检测，有着非常卓越的稳定性与精密度，测试效果可以与超高倍数的电子显微镜测试准确度媲美。
